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         X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。
        X射線衍射儀利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征,經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相,并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷(位錯)和晶格缺陷等。
        主要應用領域包括科研、化工、半導體和環境等。不斷增長的改善材料特性、提高生產效率的需求,將帶動X射線衍射儀市場投資。近年來,便攜和在線的應用逐漸增加;這主要是因為該設備可以在生產車間現場應用,并且操作簡單、方便使用。
        X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構成很相似,為X射線衍射儀的基本構造原理圖,主要部件包括4部分。
       ?。?)高穩定度X射線源:提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長,調節陽極電壓可控制X射線源的強度。
       ?。?)樣品及樣品位置取向的調整機構系統:樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
       ?。?)射線檢測器:檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。
       ?。?)衍射圖的處理分析系統:現代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機系統,它們的特點是自動化和智能化。

      X射線衍射儀

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